AK(中国)拟对以下设备公开招标采购,详细技术要求见附件:
| 
 序号  | 
 名称  | 
 数量  | 
 参数要求  | 
 可开实验内容  | 
| 
 1  | 
 自动薄膜测厚仪  | 
 1  | 
 SGC-10; 
膜厚:20nm~50um 
准确度:<1nm,波长:280~1000nm  | 
 椭圆消光法:偏振光测量光学薄膜的折射率、厚度。  | 
| 
 2  | 
 教学傅立叶变换光谱仪  | 
 1  | 
 CDFT-I; 
波数25000~10000cm-1 
分辨率:20cm-1  | 
 光学傅立叶变换:测定光源辐射的光谱,光谱数据的处理、分析,直观理解傅立叶变换光学的实现与应用。  | 
| 
 3  | 
 光栅光谱仪  | 
 1  | 
 7ISW304; 
分辨率0.05、0.2nm; 
波长200~1500nm; 
配:光纤接收  | 
 基本光谱测量仪器:用于常用光源的光谱分析。  | 
| 
 4  | 
 光电信息处理与检测平台  | 
 2  | 
 GDZ-1; 
选配件1套: 
1.DSP开发实验, 
2.51单片机开发实验,3.AVR-JTAG仿真器  | 
 多个光电转换元件:红外光源、光敏电阻、光电池、光敏二极管特性的测量;红外报警、直流电机测速、红外遥控实验。  | 
| 
 5  | 
 晶体磁光效应实验  | 
 2  | 
 LMG-II; 
光源:635nm,P>5mw  | 
 法拉第效应:磁致旋光,了解光隔离器、光调制器的实现原理。  | 
    欢迎有投标意向的厂家或商家,携带有关资质证明复印件和招标费用到AK(中国)国资处设备科报名。
    报名截止日期:2009年12月14日下午4时
    报名地点:AK官方网站未央校区行政楼501室
    联系电话:86173142
    联系人:李老师,陈老师,朱老师
                            AK官方网站国资处
                             2009年12月03日